CO združuje velik izbor sodobne opreme, ki je uporabna za razvoj nanotehnologije, še posebej za analizo nanodelcev, nanomaterialov in površin.

Za več informacij kontaktirajte:

gvido.bratina@p-ng.si

Sistem za analizo elektornskih lastnosti

Center odličnosti: Nanoznanosti in nanotehnologija

Text Box: Projekt delno sofinancira Evropska unija (ESRR)

ENG

Mikroskop na atomsko silo VEECO  CP II omogoča določevanje morfologije trdnih snovi z lateralno ločljivostjo 0.5 nm in vertikalno ločljivostjo 0.1 nm.  Načini delovanja vključujejo: merjenje lateralne sile, merjenje privlačne sile z nihanjem konice, merjenje porazdelitve električnega naboja na površini in merjenje električne prevodnosti.

Mikroskop se uporablja pri študiju rasti organskih polprevodnikov na površini.

a) Temperaturna stabilnost stika In-3,4,9,10 perilendianhidrid tetrakarbosksilne kisline (PTCDA), kjer izkoriščamo možnost merjenja električne prevodnosti, kot funkcije kraja na površini vzorca. Vzorci so izdelani z vakuumskim naparevanjem različnih debelin PTCDA na z indijem prekrite silicijeve podloge.

b)    Začetne faze rasti pentacena na vicinalnih površinah. Z naparevanjem pentacena z organsko molekularno epitaksijo lahko uravnavamo debelino slojev natančno na eno molekularno plast. Z mikroskopom na atomsko silo, raziskujemo mehanizme, ki uravnavajo nukleacijo pentacena na robovih atomskih stopnic na safirju.

c)    Rast Alq3 na InSnO, kjer želimo optimizirati pogoje rasti v luči izboljšanja elektroluminiscence organskih svetlečih diod.