CO združuje velik izbor sodobne opreme, ki je uporabna za razvoj nanotehnologije, še posebej za analizo nanodelcev, nanomaterialov in površin.

Presevna elektronska mikroskopija (TEM) in vrstična elektronska mikroskopija (SEM) sta temelja za Več...

 

Za več informacij kontaktirajte: Miran.Ceh@ijs.si

Elektronska mikroskopija

S pomočjo elektronskega snopa je možno risati vezja z ločljivosjto manj kot 100 nm. Naprava je že v rutinski uporabi.

· AFM litografija omogoča atomsko resolucijo Več...

 

Za več informacij kontaktirajte: Marko.Uplaznik@ijs.si

Elektronska nanolitografija

Visokoločljivi polarizacijski mikroskop omogoča kvalitetno analizo površin, dodatna oprema z hitrim zajemom slike pa omogoča kasnejšo dinamično analizo in sprotno spektralno analizo oziroma korelacijo svetlobe z različnih delov slike. Več...

 

Za več informacij kontaktirajte: miha.skarabot@ijs.si

 

Površinske metode

Tipalni mikroskop Dimension 3000 nabavljen iz sredstev ESRR je najnovejši v Sloveniji omogoča atomsko ločljivost v kombinaciji z zelo prijazno uporabnostjo. Več

Za več informacij kontaktirajte: Marko.Uplaznik@ijs.si

 

 

Tipalni mikroskop

Center odličnosti: Nanoznanosti in nanotehnologija

Text Box: Projekt delno sofinancira Evropska unija (ESRR)

1 2 3 4

1 2 3 4